接觸式芯片高低溫測試設(shè)備面向芯片封裝可靠性驗證

2025年8月22日 140

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)體系中，芯片封裝是保障芯片穩(wěn)定運行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其可靠性直接決定了芯片在不同應(yīng)用場景下的使用周期與性能表現(xiàn)。接觸式芯片高低溫測試設(shè)備憑借對溫度的準確控制與穩(wěn)定傳遞能力，在芯片封裝可靠性驗證中發(fā)揮著重要作用，其通過接觸式傳熱方式，為封裝測...

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