半導(dǎo)體控溫老化測(cè)試Chamber高精度溫控系統(tǒng)在芯片可靠性驗(yàn)證中的作用

2025年7月25日 175

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，芯片的可靠性可以決定終端產(chǎn)品的性能與使用周期。半導(dǎo)體控溫老化測(cè)試chamber通過(guò)對(duì)溫度等環(huán)境參數(shù)的嚴(yán)格控制，為芯片可靠性評(píng)估提供了標(biāo)準(zhǔn)化的試驗(yàn)環(huán)境，其溫控技術(shù)的成熟度直接影響測(cè)試結(jié)果的可信度。

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